VoLTE语音MOS优化分析方法1、MOS差的问题点定位测试log单次通话连续两个采样点MOS值小于3的问题点定义为MOS差的问题点。注意事项：需剔除通话结束的最后一个采样点与下次通话第一个采样点的MOS值都小于3的问题点。2、MOS优化分析方法由MOS采样点机制可以看出，MOS采样点收集的是采样时间点前8秒的语音质量，所以在分析的时候，需着重分析MOS采样时间前8秒UE本端的下行（包括：无线环境、语音编码、抖动、丢包、频繁切换、RRC重建、异频测量频次等），以及对端的上行（包括：频繁切换、RRC重建、异频测量频次等）。三、VoLTE语音MOS值的影响因素及优化思路1、MOS值的影响因素MOS值的直接影响因素为：端到端时延、抖动、丢包；VoLTE端到端时延可以分解为：UE语音编/解码时延、空口传输时延、核心网的处理时延、传输网的传输时延。丢包和抖动的影响因素包括：空口信号质量、eNB负载、传输网的丢包和抖动。故将以上因素分解后，MOS的影响因素包括：语音编码、覆盖、干扰、切换、邻区、基站负荷、基站故障、传输、核心网、测试终端、人为操作失误等。2、MOS值的优化思路结合以上影响因素和前期VoLTE拉网测试时遇到的MOS问题，共总结出四类问题点类型：无线问题、基站异常、测试规范和设备、核心网/传输。在分析MOS问题时，我们首先要考虑基站是否正常工作，其次考虑测试是否规范、测试设备是否正常，再次判断是否为无线问题造成的，最后才考虑是否核心网及传输网引起的。因此我们在分析MOS问题时，应该按以下步骤进行MOS优化：VOLTEmos分析.docx