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MOS提升的技术研究
iffier
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发表于 2011-12-04 20:31:05
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【资料名称】:MOS提升的技术研究
【资料作者】:null
【资料日期】:null
【资料语言】:中文
【资料格式】:PPT
【资料目录和简介】:
MOS图形化、地理化显示,直观显示MOS较差区域;
将MOS较差与影响因素关联分析,定位存在的MOS问题;
MOS较差<3点标注在地图上,根据重合度定位弱信号问题;
半速率编码方式与MOS问题点关联分析,减少半速率;
切换位置与MOS问题点关联分析,针对切换频繁进行优化
强质差和MOS问题点关联分析,分析定位造成强质差原因;
对实验区域测试号码定义MTR,结合测试分析定位问题;
采用新工具和新思路对覆盖、频率和干扰进行分析和评估;
GSM900/DCS1800双频业务评估,由DCS1800承担道路话务;
网络资源分析和评估;
新功能开启状况以及相关可调参数评估;
道路覆盖小区统计指标分析和评估;
附件下载列表:
2011-12-4 20:31:05 下载次数: 37
MOS提升的技术研究.ppt
(2.23 MB)
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