LTE信号产生

　　LTE的测试首先需要模拟LTE射频信号，并且研究其统计特性。对于LTE下行，研究人员可以从WiMAX和WLAN等技术中参考得到OFDMA的射频特性。但是对于上行，LTE上行使用的SC-FDMA技术在其他标准中并没有使用。因此上行信号特性需要进行特别的研究。

　　选件R&SSMx-K55用于R&S公司的信号源，诸如R&SSMU200A，R&SSMJ100A和R&SSMATE200A就可以按照TS36.211标准规定产生LTEFDD和TDD的上下行射频信号，用于元器件性能测试以及基站和移动终端的接收机测试。

　　此外R&S还提供了高性能的双通道基带信号源AMU200A以及AFQ100A，加上AMU-K55或者AFQ-K255选件后，就可以模拟LTE的基带信号，用于LTE研发早期基带信号的模拟。而通过一款R&S提供的EX-IQ-BOX，用户可以产生适应自己需要的数字基带信号格式。

　　LTE信号分析

　　其次在LTE信号的射频分析方面，由于LTE信号采用了新的接入方式OFDMA，信号带宽最高可达20MHZ，这些对于信号的频域分析和调制域分析都提出了更高的要求。R&SFSQ和R&SFSG信号分析仪能分析3GPPLTE基站或者移动电话的发射机模块。信号分析选件R&SFSQ-K101和R&SFSQ-K105支持LTEFDD和TDD上行射频信号的测量。选件R&SFSQ-K100和R&SFSQ-K104可用于分析3GPPLTE下行信号，跟上行信号选件类似，该选件能在频域，时域及调制域对标准规定的所有信道带宽的3GPPLTEFDD和TDD信号进行测量。

　　如需测量LTE基带信号，不管是平衡还是非平衡的，都可使用R&SFSQ的模拟（R&SFSQ-B71）和数字（R&SFSQ-B17）基带输入选件来完成。同时R&S也提供了一款EX-IQ-BOX可以适应用户自己的数字基带格式，通过和FSQ上的B17接口一起使用，可以分析LTE数字基带信号。

　　此外如果想对OFDM信号进行分析的话，R&S在高端信号分析仪FSQ上开发了FSQ-K96选件，这可以满足LTE早期研发和对任意OFDM信号进行分析的需求。

　　LTEMIMO测试

　　R&S公司的射频信号发生器SMU200A，或基带信号发生器AMU200A，都可以使用单台仪表进行MIMO接收机测试。在电磁波频率低于100kHz时，电磁波会被地表吸收，不能形成有效的传输，一旦电磁波频率高于100kHz时，电磁波就可以在空气中传播，并经大气层外缘的电离层反射，形成远距离传输能力，我们把具有远距离传输能力的高频电磁波称为射频，英文缩写：RF。为了能够在空中传播电视信号，必须把视频全电视信号调制成高频或射频（RF-Radio Frequency）信号，每个信号占用一个频道，这样才能在空中同时传播多路电视节目而不会导致混乱。这两款信号发生器都配置两个信号源，加装R&SSMU-K74或者AMU-K74选件后，就可以实时模拟2×2MIMO系统所需的4个衰落信道，从而对2×2的MIMO接收机进行测试。这两款仪表解决方案都支持ITU为3GPPLTE定义的、包含衰落路径之间的相关特性的各种衰落模式。

　　通过把两台或四台R&S的信号分析仪FSQ或FSG连接起来，R&S可以提供2×2和4×4的MIMO信号分析，此时只需在一台主控FSQ/G上配置K100（或者K104）和K102选件，就可以支持LTEFDD和LTETDD中的三种MIMO模式：发射分集，空间复用和循环延迟分集。

　　LTE协议测试

　　R&S推出了LTE协议测试仪CMW500，它的功能强大的硬件方案可以提供的频率高达6GHz，带宽为40MHz。它不仅可以用于一致性测试，性能测试和互操作测试，而且还把它的优点扩展到产品生命周期的后续阶段。

　　CMW500一台仪表可以支持最多两个LTE或者WCDMA的小区，而且还可以提供选件B2xx支持GSM，CDMA200，1xEV-DO小区，从而可以实现不同系统间切换的测试。此外CMW500可以支持MIMO2×2以及MIMO4×2。

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LTE测试方法简介.pdf