【资料名称】：影响MOS指标的测试分析报告

【资料作者】：zz

【资料日期】：2012-3-1

【资料语言】：中文

【资料格式】：DOC

【资料目录和简介】：

1概述3
1.1语音质量测试方法及原理3
1.2测试工具4
1.3测试项目5
2DTX功能对MOS值的影响（EFR情况下）6
2.1测试目的6
2.2测试原理6
2.3开启UL_DTX，关闭DL_DTX6
2.4开启DL_DTX，关闭UL_DTX6
2.5关闭UL_DTX和DL_DTX7
2.6开启UL_DTX和DL_DTX7
2.7DTX对MOS的影响小结7
3上下行功率控制对MOS值的影响（无线环境较好）8
3.1测试目的8
3.2开启UL_PWRC，关闭DL_PWRC8
3.3开启DL_PWRC，关闭UL_PWRC8
3.4关闭UL_PWRC和DL_PWRC8
3.5开启UL_PWRC和DL_PWRC8
3.6功率控制对MOS的影响9
4话音编码速率不同对MOS值的影响（无线环境较好）10
4.1测试目的10
4.2测试原理10
4.3采用增强型全速率编码11
4.4采用全速率编码11
4.5采用半速率编码11
4.6话音编码速率不同对MOS的影响12
5话音编码速率不同对MOS值的影响（无线环境较差）13
5.1测试目的13
5.2采用增强型全速率编码13
5.3采用全速率编码13
5.4采用半速率编码13
5.5话音编码速率不同对MOS的影响14
6切换对MOS值的影响15
6.1测试目的15
6.2测试原理15
6.3设置为 EFR时的测试情况15
6.4设置为 HR时的测试情况16
6.5设置为 EFR＋HR时的测试情况17
6.6切换对MOS值的影响小结18
7总结19